西门子控制器6ES7317-2AK14-0AB0

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1.基极必须串接电阻，保护基极，保护CPU的IO口。

2.基极根据PNP或者NPN管子加上拉电阻或者下拉电阻。

3.集电极电阻阻值根据驱动电流实际情况调整。同样基极电阻也可以根据实际情况调整。

基极和发射极需要串接电阻，该电阻的作用是在输入呈高阻态时使晶体管可靠截止，极小值是在前级驱动使晶体管饱和时与基极限流电阻分压后能够满足晶体管的临界饱和，实际选择时会大大高于这个极小值，通常外接干扰越小、负载越重准许的阻值就越大，通常采用10K量级。

防止三极管受噪声信号的影响而产生误动作，使晶体管截止更可靠!三极管的基极不能出现悬空，当输入信号不确定时(如输入信号为高阻态时)，加下拉电阻，就能使有效接地。

特别是GPIO连接此基极的时候，一般在GPIO所在IC刚刚上电初始化的时候，此GPIO的内部也处于一种上电状态，很不稳定，容易产生噪声，引起误动作!加此电阻，可消除此影响(如果出现一尖脉冲电平，由于时间比较短，所以这个电压很容易被电阻拉低;如果高电平的时间比较长，那就不能拉低了，也就是正常高电平时没有影响)!

但是电阻不能过小，影响泄漏电流!(过小则会有较大的电流由电阻流入地)

当三极管开关作用时,ON和OFF时间越短越好,为了防止在OFF时,因晶体管中的残留电荷引起的时间滞后,在B,E之间加一个R起到放电作用

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由于数字式万用表体积小巧，便于观察数据，使用和携带较为方便，越来越多的被广大的电子行业的从业人员和电子爱好者所使用。
　　
　　经长期的实践，总结出一种使用数字式万用表测量晶体三极管的简易方法，现介绍如下。
　　
　　晶体三极管具有两个PN结，分别是集电结和发射结。两个PN结分成三个区：发射区，集电区和基区。这三个区在制造工艺掺入了浓度不同的杂质，组成一个完整的具有放大功能的晶体三极管。分别是发射区的掺杂浓度最高，集电区的掺杂浓度底于发射区，基区掺杂浓度最小，根据这一特性，便可以迅速判断出晶体三极管的三个电极来。

 
　　
　　具体测量方法为：
　　
　　数字式万用表选用二极管档测量晶体三极管，此档位的工作电压为2V，此电压可以保证晶体三极管的两个PN结在施加此电压后能够发生正向导通，反向截止的PN结单向导电特性。
　　
　　1．基极的判定
　　
　　将数字表的一支表笔接在晶体三极管的假定基极上，另一只表笔分别去接另外两个极，如果两次测量在液晶屏上显示的数字为0.1～0.7V左右，则说明晶体三极管的两个PN结发生了正向导通，此时假定的基极为晶体三极管的基极，另外两电极分别为集电极和发射极；如果只有一次显示0.1～0.7V左右或一次都没有显示，则应从重新假定基极再次测量，直到测出基极为止。

　　
　　2．三极管类型、材料的判定　　
　　
　　基极确定后，红笔接基极的为NPN型三极管，黑笔接基极的为PNP型三极管；PN结正向导通时的结压降在0.1～0.3V左右的为锗材料三极管，结压降在0.5～0.7V左右的为硅材料三极管。
　　
　　3．集电极和发射极的判定
　　
　　有两种方法进行判定：一种是用二极管档进行测量，由于晶体三极管的发射区掺杂浓度高于集电区，所以在给发射结和集电结施加正向电压时PN压降不一样大，其中发射结的结压降略高于集电结的结压降，从而判定发射极和集电极。
　　
　　另一种方法是使用hFE档来进行判断。在确定了三极管的基极和管型后，将三极管的基极按照基极的位置和管型插入到β值测量孔中，其他两个引脚插入到余下的三个测量孔中的任意两个，观察显示屏上数据的大下，之后在取出三极管的集电极和发射极，交换位置在测量一下，观察显示屏数值的大小，反复测量4次，对比观察。以所测的数值最大的一次为准，就是三极管的电流放大系数B，相对应插孔的电极即是三极管的集电极和发射极。

　　
　　4．质量的判定
　　
　　晶体三极管的质量大致有以下几种情况，可以用数字表测量出来。
　　
　　(1)正常在正向测量两个PN结时具有正常的正向导通压降0.1～0,7V左右，反向测量时两个PN结反向截止，显示屏上显示溢出符号“1"。集电极和发射极之间测量时显示溢出符号“1"。
　　
　　(2)击穿常见故障为集电结或发射结以及集电极和发射极之间击穿，在测量时蜂鸣档会发出蜂鸣声，同时显示屏上显示的数据接近于零。
　　
　　(3)开路常见的故障为发射结或集电结开路，在正向测量时显示屏上会显示为“1"的溢出符号。
　　
　　(4)漏电常见的故障为发射结或集电结之间在正向测量时有正常的结压降，而在反向测量时也有一定的压降值显示。一般为零点几伏特到壹点几伏特之间，反向压降值越小，说明漏电越严重。
　　
　　这个方法普遍可行。熟练者可在10s左右得到结果。要注意，带有阻尼或互补达林顿的管容易误判断。请根据具体情况进行判别。